Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi
KARAKOÇ, Mehmet.
Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi.
Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, [S.l.], v. 22, n. 1, p. 336-345, aug. 2017.
ISSN 1308-6529.
Erişim Adresi: <http://dergipark.ulakbim.gov.tr/sdufenbed/article/view/5000210069/5000182563>. Erişim Tarihi: 27 Apr. 2018
doi:http://dx.doi.org/10.19113/sdufbed.39274.